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高分類精度
高精度の欠陥特長抽出アルゴリズムにより、High Accuracy, High Purityを実現しています。 |
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豊富な分類クラス
予め５０種類を越える分類が用意されていますので、分類ルールを作成しなくても運用を開始することができます。 |
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簡単なADCレシピ作成
分類ルールを選択する、チューニングする、新たな分類ルールを作成するなど、先進的GUIによりADCレシピ作成が簡単に行えます。 |
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MDCの併用
ADCで分類できないUNKNOWN欠陥は、ユーザーがマニュアルで分類することができます。洗練されたGUIにより、大量の画像を簡単に短時間で分類することができます。 |
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大規模システムへの対応
１００万画像を超えるシステムを容易に構築することができます。様々なキーワードで、簡単に迅速に検索して参照することができます。例えば、特定の欠陥タイプを簡単に並べて見ることができます。 |
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歩留管理システム（APEX）との連携動作
ADCやMDCの結果は、上位のAPEXシステムへ転送されて迅速に障害を検出したり、その原因を突き止めるのに利用されます。 |
