理科学機器・半導体・画像処理・臨床検査システムの日本電子システムテクノロジー

日本システムテクノロジー

文字サイズ選択

小

中

大

  • サイトマップ
  • お問い合わせ
  • 製品案内
  • 技術紹介
  • 受託開発
  • 会社情報
  • 事業案内
  • 採用情報
  • Web販売

一覧表示

ホームへ戻る

カテゴリ

  • 製品案内
    • 半導体分野システム
    • 理科学器分野システム
    • 臨床分野システム
    • CPUボード
    • 高速演算処理ボード
    • 画像取込/画像処理装置
    • その他
  • 技術紹介
    • ソフトウェア
    • ハードウェア
  • 受託開発
    • 実施例

前のページに戻る

ChemiCenter WEEE & RoHS対応化学物質管理システム

製品名
ChemiCenter WEEE & RoHS対応化学物質管理システム

 
概要
ChemiCenterは、以下のような作業を支援します。
  • 規制対象化学物質の含有量報告書作成
  • 規制対象化学物質の分析結果のレポート作成
  • 部品やユニットの化学物質含有量の確認
  • 製品の品質保証
特徴
◆ 蛍光X線分析装置から出力されたデータを簡単にデータベースへ取り込むことができます。また、バーコードの使用により、より簡単にデータベースへ取り込むことができます。

◆ 蛍光X線分析装置で分析した結果を、簡単な操作で報告書として印刷することができます。
◆ 任意ユニット/部品単位の化学物質含有量を集計し、報告書および一覧表を作成・印刷することができます。
◆ 報告書の雛形はユーザーが自由に作成/保存することができます。

◆ 各種法規制情報やそれに含まれる化学物質、国別対応などをユーザーが自由に作成することができます。
◆ 部材の化学物質含有濃度から、部品の含有量を任意式で簡単に計算することができます。
◆ 装置を構成するユニット/部品の階層構造を簡単に作成・修正することができます。 作成した報告書をWEBで公開(制限可能)することができます。
基本機能
入力装置 蛍光X線分析装置
分析情報 濃度データ、スペクトル、画像、測定条件
部品情報登録 部品名、部品No、材料コード、規格(型番)、メーカ名、 分析日付、分析部位、分析データ・重量、含有量・単位など
含有量計算 濃度×重量による計算(重量はユーザーマクロ式定義可能)
規制物質登録 化学物質名、CASコード、規制値、単位の登録・更新
部品構成登録 部品登録、製品・部品の構成の登録・更新
集計 任意部品、任意階層の集計と規格値合否判断
検索 ・属性(部品名,ID,メーカ,型番等)検索
表示と印刷 ・バーコードによるダイレクト検索表示と印刷
・ 分析結果の任意フォーマット報告書
・ 任意部品の化学物質含有量
・ 任意階層部品の化学物質含有量
・ 規制物質含有量の任意フォーマット報告書
・ 部品リストと含有量
・ 判定結果
・ 部品の構成
エクスポート CSV出力(Opt)
WEB閲覧(Opt) 報告書バッチ作成、WEB自動登録、報告書管理
WEB検索(Opt) キーワードによる検索
インポート(Opt) 分析データを外部システムから入力
自動機能(Opt) 印刷
データベース Microsoft SQL Server(標準)

●ハードウェア
PC: Pentium 2GHz Memory 512MB HD 100GB以上を推奨
OS: WindowsXP, Windows2003, Windows2000
ダウンロード
試用ソフトのダウンロード | パンフレットのダウンロード
お問い合わせ先:この記事に関するお問い合わせはこちらよりお願い致します。
TOPヘ戻る

Copyright(c) JEOL SYSTEM TECHNOLOGY CO., LTD. All Rights Reserved.

  • お問い合わせ
  • プライバシーポリシー
  • アクセスマップ