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PROBE　不良ビット解析システム

製品名
PROBE　不良ビット解析システム
概要
半導体メモリの量産工場においてメモリテスタから得られた不良ビットデータを用いて、不良モードを高速に分類し、欠陥と照合し、不良解析を支援するシステムです。 大容量メモリ対応、不良モード分類定義機能、高速分類を特長としています。
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